专家简介：

博士，北京大学信息科学技术学院副研究员。

1986-1990年，在哈尔滨船舶工程学院机械系，获学士学位。1994-1997年，在哈尔滨工程大学机电学院，获在职硕士学位。2000-2003年，在北京大学信息科学技术学院，获博士学位。

1990-2000年，就职于电子科技集团49研究所，任工程师。1996-1997年，前往美国RAE SYSTEMS公司，作访问学者。2003-2005年，任教于北京大学信息科学技术学院，任讲师。2005年8月至今，在北京大学信息科学技术学院，任副研究员。研究方向：MEMS 传感器产品化、产业化。

现任中国电子学会高级会员；全国微机电技术标准化委员会（SAC/TC336）委员；仪器仪表学会微纳器件与系统技术分会理事；担任国际电工委员会IEC（SC47F）专家是国家首个JY标准“MEMS传感器通用规范”主要起草人，国家标准“MEMS薄膜材料鼓胀测试评定标准”---主要起草人，国家系列MEMS标准评审专家，作为IEC中国专家评审国外标准，进行投票。