专家简介：

宫银燕，美国哥伦比亚大学获材料科学与工程博士，美国哥伦比亚大学博士后，英国布里斯托尔大学博士后，现为中国计量学院讲师。主要从事半导体材料和纳米材料的物理性质的表征（包括光谱分析，电学性质和热电性质的测量，结构分析等），以及微观结构与宏观物理性质的关联性等方面的研究。曾参了英国自然科学与工程研究理事会(EPSRC)的科研项目和美国能源部(DOE）的科研项目。